LM-80 Test Report (Lumen Depreciation of LED Chip)
North American IES standard LM80では、LEDのバッチを指定の駆動電流と周囲温度でテストする方法が決められています。 試験中、一定時間ごとに光束とCCTが測定されます。 試験には少なくとも 2 つの周囲温度が使用されます。 55°Cと85°Cです。 その後、LEDをオーブンから取り出し、周囲温度25℃まで冷却し、光出力特性を測定します。 その後、LEDを再びオーブンに入れ、最低6000時間（約9ヶ月）このプロセスを繰り返します。
LM80試験が終了すると、測定値を使用して各温度における光束の減価償却曲線が決定されます。 そのデータを北米技術資料TM21に記載されている方法で外挿し、「ルーメン維持寿命予測値（Lp）」を決定します。 外挿の終点は、通常、初期光出力の70％です。
LM-80は、LEDパッケージ、モジュール、アレイなどの固体光源のルーメン減価を測定するための方法を指します。
これは北米照明学会（IESNA）によって開発されたもので、異なる企業のLEDコンポーネントのルーメン維持を評価および比較できるようにするためのものです。
これは通常6000時間（10000時間でも可）のテストで、特定の動作温度55度、85度および第三のメーカー定義温度での期間中の減価および色度シフトを示します。